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Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于醫(yī)用材料表面形貌分析，幫助觀察材料表面結構、孔隙和缺陷。

Phenom Pharos G2 是飛納推出的臺式場發(fā)射掃描電鏡，可用于科研實驗室高分辨SEM觀察，適合多類材料的微納形貌表征。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于醫(yī)療器械涂層觀察，幫助分析涂層表面、截面和界面形貌。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于醫(yī)用材料表面形貌分析，幫助觀察材料表面結構、孔隙和缺陷。

AFM-SEM 同步聯用技術（通用版）SEM 與 AFM 是亞納米級樣品分析中應用廣泛且互補的兩大技術。將 AFM 集成至 SEM 中可融合兩者的優(yōu)勢，實現超高效工作流程， 完成傳統(tǒng) AFM 和 SEM 難以或無法實現的極限性能和復雜樣品分析。